探針
探針的材質(zhì)：W,ReW,CU、 A+
1、主要采用的材質(zhì)為W,ReW, 彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長(zhǎng),壽命一般。
2、A+材質(zhì)的免清針,這種材質(zhì)彈性較好,測(cè)試中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長(zhǎng)。
A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針,國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；
B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；
C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）
垂直探針：垂直型（Vertical Type）
1、ICT探針�。↖CT series Probes）
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．
2、界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)（Teradyne）和安捷倫（Agilent）．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．
3、微型探針（MicroSeries Probes）
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
4、開關(guān)探針（Switch Probes）
開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流．
5、高頻探針（Coaxial Probes）
用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．
6、旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes）
彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng),一般用于OSP處理過的PCBA測(cè)試．
7、高電流探針（High Current Probes）
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測(cè)試電流可達(dá)39amPS.
8、半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9、電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)．
專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè),直徑在1.0——3.5mm之間,電流在3————50A
除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用。
進(jìn)口ITP三坐標(biāo)探針主要用于測(cè)量小孔直徑，基座呈階梯狀
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進(jìn)口ITP三坐標(biāo)探針主要用于測(cè)量小孔直徑,基座呈階梯狀： A型 簡(jiǎn)單的直針形式。整個(gè)莖的形狀是圓柱形,可以由不銹鋼、硬質(zhì)合金、陶瓷或CFRP制成￥306元/個(gè)所在地：陜西西安
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