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低溫試驗就是將試驗樣品暴露于標準規(guī)定的低溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。按工作狀態(tài)不同，分為低溫貯存試驗、低溫工作試驗。其目的主要用來確定元件、設備或其他產品在在貯存、運輸和使用中對低溫環(huán)境的適應性。

2.2 掌握情況我司可按gb t 2423.1-1989 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗a 低溫試驗方法及gjb 150.4a-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 低溫試驗.等標準要求，開展低溫貯存試驗、低溫工作試驗�？蛇M行常溫到-100℃試驗，試驗箱空間最大為45立方米，是目前國內僅有的幾家可以試驗到-100℃溫度的實驗室之一，為國防航天航空產品試驗提供有力保障。

2.3 用途用于電子元件、家用電器、軍用裝備、汽車零部件等的低溫實驗及儲存。用于考核產品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性，常用于產品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。

高溫試驗3.1 技術描述高溫試驗就是將試驗樣品暴露于標準規(guī)定的高溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。按工作狀態(tài)不同，分為高溫貯存試驗、高溫工作試驗。其目的主要用來確定元件、設備或其他產品在在貯存、運輸和使用中對低溫環(huán)境的適應性。

電子電器產品－高低溫試驗本部分試驗的目的僅限于用來確定元件、設備或其他產品在低溫、高溫、高濕度、高濕度與溫度組合環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。