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精度比較高的薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)試原理
機(jī)械接觸式測(cè)試原理、截取一定尺寸試樣、測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上、在一定壓力和一定接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值 .
精度比較高的薄膜厚度測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率：0.1um
測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）;50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）、200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種
機(jī)器尺寸：450mm×340mm×360mm (長(zhǎng)寬高)
重量：23Kg
環(huán)境要求
環(huán)境溫度：15℃-50℃（無(wú)震動(dòng)、無(wú)電磁干擾）
相對(duì)濕度：最高80%、無(wú)凝露
工作電源：220V 50Hz
精度比較高的薄膜厚度測(cè)量?jī)x標(biāo) 準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
配 置
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一套、微型打印機(jī)
選用配置：專業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭、配重砝碼